Xstress3000殘余應(yīng)力分析儀檢測殘余奧氏體含量

Xstress3000殘余應(yīng)力分析儀如何檢測殘余奧氏體含量呢？

X射線照射鐵素體和奧氏體時都會產(chǎn)生衍射，其衍射峰的強(qiáng)度與各相體積分?jǐn)?shù)成正比，因此Xstress3000殘余應(yīng)力分析儀通過各衍射峰的強(qiáng)度對比可以分析計算出殘余奧氏體的百分含量。

Xstress3000殘余應(yīng)力分析儀采用四峰法自動測量殘余奧氏體含量，精度優(yōu)于1%。相比較于傳統(tǒng)的金相法等手段，四峰法具有無損、快速和精確等特性。

鐵素體峰

奧氏體峰